Новости

Компания Avago выпустила микросхему HSMF-C116 для поверхностного монтажа, которая выполняет функции миниатюрного трёхцветного светодиода. Данный чип предназначен для портативной и носимой аппаратуры, в которой требуется обеспечить малый шаг между компонентами.

Компания Texas Instruments выпустила в феврале 2016г ИС INA301, которая является усилителем для измерения тока, протекающего через нагрузку. Ток в нагрузке определяется по падению напряжения на низкоомном резисторе, включённом последовательно с нагрузкой, при этом усилитель нечувствителен к величине напряжения на нагрузке,

Компания ON Semiconductor объявила 22 февраля 2016г о выпуске нового поколения БИС для оптической стабилизации (OIS) и автофокусировки (AF) изображения в цифровых фото и видеокамерах. БИС LC898123AXD с функциями OIS/AF объединяет цифровой DSP процессор, многочисленные аналоговые модули оптической стабилизации, H-мост и формирователи постоянных напряжений для модулей.

Однокристальные интеллектуальные датчики, выполненные по технологии МЭМС, являются основной продукцией компании InvenSense. Благодаря новым технологиям компания сумела сделать датчики самыми миниатюрными и интеллектуальными в мире и это определило их широкое применение в разнообразных мобильных устройствах. Компания производит по технологии МЭМС многоосевые гироскопы и акселерометры.

Компания Avago выпустила оптопару ACFL-6211U, которая обеспечивает передачу цифровых данных в двух направлениях. В микросхему интегрированы две одноканальные оптопары, развернутые на 180 градусов относительно друг друга, при этом выводы сконфигурированы так, чтобы обеспечить удобный интерфейс для передачи коммуникационных данных Tx/Rx в двух направлениях.

Компания ON Semiconductor объявила 12 января 2016г о начале производства оптического датчика KAI-47051 на приборах с зарядовой связью (ПЗС) с большим разрешением, составляющим 47 мегапикселей. На сегодняшний день это самое высокое разрешение для серийных промышленных датчиков изображения. Датчики такого разрешения используются в промышленности для контроля качества плоских дисплеев высокого разрешения и для аэрофотосъемки при картографировании.